首页> 外文OA文献 >Mesoscopic phenomena in Au nanocrystal floating gate memory structure
【2h】

Mesoscopic phenomena in Au nanocrystal floating gate memory structure

机译:金纳米晶体浮栅存储结构的介观现象

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

A resonant tunneling process is demonstrated in the HfAlO/Au nanocrystals/HfAlO trilayer nonvolatile memory (NVM) structure on Si, where the electrons tunnel back and forth to the Au nanocrystals due to the various mesoscopic behaviors. The electron tunneling behavior in this trilayer structure exhibits dissimilar resemblance to those in double-barrier tunnel junctions taking into account of the correlation of Coulomb blockade effect. The observed specific tunneling process is beneficial in studying the interplays of various mesoscopic physics and application of single electron devices into NVM.
机译:在Si上的HfAlO / Au纳米晶体/ HfAlO三层非易失性存储器(NVM)结构中证明了共振隧穿过程,其中由于各种介观行为,电子来回隧穿到Au纳米晶体。考虑到库仑阻挡效应的相关性,这种三层结构中的电子隧穿行为与双势垒隧道结中的电子隧穿行为表现出不同的相似性。观察到的特定隧穿过程有利于研究各种介观物理的相互作用以及将单电子器件应用于NVM。

著录项

  • 作者

    Chan, KC; Lee, PF; Dai, J;

  • 作者单位
  • 年度 2009
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号